Estudio de parámetros atómicos y moleculares en espectroscopía de rayos x : Aplicación a la cuantificación sin estándares / Silvina Paola Limandri.
Detalles de publicación: [S.l. : s.n. ], 2011.Descripción: 197 páginas : ilustraciones (algunas color) ; 30 cmTema(s):- X-ray spectra
- Line and band widths, shapes, and shifts
- Absolute and relative intensities
- Fine and hyperfine structure
- Electronic structure and spectra
- X-ray and γ-ray spectrometers
- Microanálisis con sonda de electrones
- EDS
- WDS
- Asimetría de picos
- Eficiencia de detección
- Función Voigt
- Espectro de emisión de rayos x
- Sección eficaz de ionización
- Líneas satélites
- Cuantificación sin estándares
Tipo de ítem | Biblioteca actual | Signatura | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Tesis de Doctorado | FaMAF Vitrina | T F LIM | 1 | Disponible | 21307 |
Incluye apéndices.
Tesis (Doctor en Física)--Universidad Nacional de Córdoba, Facultad de Matemática, Astronomía y Física, 2011.
Bibliografía : p. 189-197.
En este trabajo de tesis se determinaron parámetros atómicos e instrumentales necesarios para la descripción de un espectro de emisión de rayos x. Para ello, se analizaron espectros de emisión inducidos por impacto de electrones y fotones, adquiridos con los dos sistemas de detección de rayos x dispersivos en energías y en longitudes de onda. Los resultados alcanzados fueron aplicados al microanálisis con sonda de electrones para el perfeccionamiento de un programa de análisis cuantitativo, basado en el refinamiento de parámetros (análogo al método Rietveld utilizado en difracción de rayos x).