CATÁLOGO DE LA BIBLIOTECA DE LA FaMAF
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Estudio de parámetros atómicos y moleculares en espectroscopía de rayos x : Aplicación a la cuantificación sin estándares / Silvina Paola Limandri.

By: Limandri, Silvina Paola, 1983-.
Contributor(s): Trincavelli, Jorge Carlos, 1962- [dir.].
Material type: materialTypeLabelBookPublisher: [S.l. : s.n. ], 2011Description: 197 p. : il. (algunas col.) ; 30 cm.Subject(s): X-ray spectra | Line and band widths, shapes, and shifts | Absolute and relative intensities | Fine and hyperfine structure | Electronic structure and spectra | X-ray and γ-ray spectrometers | Microanálisis con sonda de electrones | EDS | WDS | Asimetría de picos | Eficiencia de detección | Función Voigt | Espectro de emisión de rayos x | Sección eficaz de ionización | Líneas satélites | Cuantificación sin estándaresOnline resources: Acceso a Versión Digital Disponible en líneahttp://www.famaf.unc.edu.ar/publicaciones/documents/serie_d/DFis150.pdf
Partial contents:
Consideraciones generales -- Equipamiento -- El programa POEMA -- Caracterización de un espectrómetro EDS -- Caracterización de un espectrómetro WDS -- Estudio de parámetros atómicos en elementos puros -- Estudio de satélites Kß en compuestos de Mn -- Algoritmo utilizado para el cálculo numérico de la función error -- Métodos usados para la construcción y caracterización de peliculas delgadas.
Dissertation note: Tesis (Doctor en Física)--Universidad Nacional de Córdoba, Facultad de Matemática, Astronomía y Física, 2011. Summary: En este trabajo de tesis se determinaron parámetros atómicos e instrumentales necesarios para la descripción de un espectro de emisión de rayos x. Para ello, se analizaron espectros de emisión inducidos por impacto de electrones y fotones, adquiridos con los dos sistemas de detección de rayos x dispersivos en energías y en longitudes de onda. Los resultados alcanzados fueron aplicados al microanálisis con sonda de electrones para el perfeccionamiento de un programa de análisis cuantitativo, basado en el refinamiento de parámetros (análogo al método Rietveld utilizado en difracción de rayos x).
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Tesis de Doctorado Tesis de Doctorado FaMAF
Vitrina
T F LIM 1 Available Disponible también en línea 21307
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Incluye apéndices.

Tesis (Doctor en Física)--Universidad Nacional de Córdoba, Facultad de Matemática, Astronomía y Física, 2011.

Bibliografía : p. 189-197.

Consideraciones generales -- Equipamiento -- El programa POEMA -- Caracterización de un espectrómetro EDS -- Caracterización de un espectrómetro WDS -- Estudio de parámetros atómicos en elementos puros -- Estudio de satélites Kß en compuestos de Mn -- Algoritmo utilizado para el cálculo numérico de la función error -- Métodos usados para la construcción y caracterización de peliculas delgadas.

En este trabajo de tesis se determinaron parámetros atómicos e instrumentales necesarios para la descripción de un espectro de emisión de rayos x. Para ello, se analizaron espectros de emisión inducidos por impacto de electrones y fotones, adquiridos con los dos sistemas de detección de rayos x dispersivos en energías y en longitudes de onda. Los resultados alcanzados fueron aplicados al microanálisis con sonda de electrones para el perfeccionamiento de un programa de análisis cuantitativo, basado en el refinamiento de parámetros (análogo al método Rietveld utilizado en difracción de rayos x).

Disponible en línea

http://www.famaf.unc.edu.ar/publicaciones/documents/serie_d/DFis150.pdf

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